Knihy od autora C.E. Fiori

Zobrazeno 1 – 2 z 2 výsledků

1. 

   Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

   Patrick Echlin, C.E. Fiori, Joseph Goldstein, David C. Joy | Springer-Verlag New York Inc., 2013

   
   

   Skladem u dodavatele - Odesíláme za 5-8 dnů

   Jazyk: Angličtina

   Vazba: Brožovaná

   2357 Kč

   Koupit
2. 

   Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

   Patrick Echlin, C.E. Fiori, Joseph Goldstein, David C. Joy | Springer Science+Business Media

   
   

   50 % šance - Prohledáme celý svět

   Jazyk: Angličtina

   Vazba: Pevná

   4649 Kč

   Koupit

Doručení zdarma pro objednávky nad 1499 Kč Zjistěte více